APPIE亞微米區域試驗顆粒→特價中...--大台北尖端儀器有限公司--ABTEK Corp.

APPIE亞微米範圍粒度分佈測量裝置測試粒子（縮寫為亞微米測試粒子），在日本粉末工業技術協會標準SAP 13-11中定義是用於粒度分佈測量裝置測試的粒子。所使用的材料是高純度球形熔融二氧化矽，其長期儲存的物理性質沒有變化，並且它以0.09μm至1.5μm的範圍內具有不同粒度分佈的三種類型的顆粒作為一組出售。一組中的顆粒種類，粒度分佈的近似值和內容量如下。

種類	粒徑分布領域的概略值	内容量
FSTP 0.3-1.5	從約0.3μm至約1.5μm	約4g
FSTP 0.2-0.7	從約0.2μm至約0.7μm	約3g
FSTP 0.09-0.2	從約0.09μm至約0.2μm	約2g

粒度分佈
亞微米測試顆粒的粒度分佈的測量通過顯微鏡進行，並且方法和條件的細節以及測量結果的顯示方法由日本粉末工業技術協會標準SAP 13-11規定。
粒度分佈測量結果
表1亞微米測試的顆粒粒度分佈（顯微鏡單位μm）

尺寸過小(%)	FSTP 0.3-1.5		FSTP 0.2-0.7		FSTP 0.09-0.2
尺寸過小(%)	體積基準	個數基準	體積基準	個數基準	體積基準	個數基準
10	0.288	0.104	0.173	0.082	0.090	0.052
20	0.393	0.132	0.216	0.105	0.106	0.065
30	0.491	0.157	0,256	0.121	0.119	0.075
40	0.595	0.182	0.297	0.138	0.131	0.085
50	0.724	0.208	0.345	0.156	0.143	0.094
60	0.854	0.238	0.398	0.175	0.156	0.104
70	0.994	0.275	0.469	0.198	0.171	0.115
80	1.203	0.334	0.576	0.235	0.192	0.129
90	1.478	0.444	0.738	0.291	0.228	0.154
測量粒子數	21640 個		22769 個		15620 個
測量除外粒子數	174 個		50 個		148 個

注意：測量中不包括可以清楚地識別為橢球（變形顆粒）的破碎顆粒或顆粒。

物理特性
1）SiO2純度（熔融石英）

表2 SiO 2純度

種類	SiO₂％
FSTP 0.3-1.5	99.77
FSTP 0.2-0.7	99.72
FSTP 0.09-0.2	99.51

*採用高頻電感耦合等離子體發射光譜儀。

2）顆粒密度

表3　粒子密度

種類	粒子密度(kg/m³)
FSTP 0.3-1.5	2333.7
FSTP 0.2-0.7	2340.3
FSTP 0.09-0.2	2336.5

*採用氣體置換比重瓶

3）縱橫比，圓度（球度）
表4縱橫比和圓形度

種類	測定粒子数	縱橫比		圓形度(平均値)
種類	測定粒子数	平均値	1～1.1%	圓形度(平均値)
FSTP 0.3-1.5	654	1.0336	95	0.9406
FSTP 0.2-0.7	637	1.0355	95	0.9310
FSTP 0.09-0.2	576	1.0501	92	0.9233

*通過圖像分析軟體在場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）的圖像上進行顆粒形狀分析。 “1至1.1％”表示“縱橫比的比率（％）（個體基數）落在1至1.1”之間。

5）折射率
1.45（文獻值）

電子顯微鏡照片


FSTP 0.3-1.5	FSTP 0.2-0.7	FSTP 0.09-0.2

包裝單位：
亞微米測試顆粒（3組）：1例
※（3個小瓶，每個內容量不同）
※內容：
FSTP 0.3-1.5約4克
FSTP 0.2-0.7約3克
FSTP 0.09-0.2約2g

APPIEサブミクロン領域粒子径分布測定装置試験用粒子（略称サブミクロン試験用粒子）は、日本粉体工業技術協会規格SAP13-11で規定されている粒子径分布測定装置試験用粒子である。使用材料は、長期間の保存に対し物性の変化のない高純度の球形の溶融シリカであり、0.09μｍから1.5μｍまでの範囲で粒子径分布の異なる3種類の粒子を1セットとして販売している。1セットの粒子の種類、粒子径分布の概略値、内容量は以下のとおりである。

種類	粒子径分布領域の概略値	内容量
FSTP 0.3-1.5	約0.3μmから約1.5μm	約4g
FSTP 0.2-0.7	約0.2μmから約0.7μm	約3g
FSTP 0.09-0.2	約0.09μmから約0.2μm	約2g

粒子径分布

サブミクロン試験用粒子の粒子径分布の測定は顕微鏡法で行うが、その方法と条件および測定結果の表示方法の詳細は日本粉体工業技術協会規格SAP13-11により規定されている。
● 粒子径分布測定結果

表１　サブミクロン試験用粒子の粒子径分布（顕微鏡法　単位 μｍ）

アンダーサイズ(%)	FSTP 0.3-1.5		FSTP 0.2-0.7		FSTP 0.09-0.2
アンダーサイズ(%)	体積基準	個数基準	体積基準	個数基準	体積基準	個数基準
10	0.288	0.104	0.173	0.082	0.090	0.052
20	0.393	0.132	0.216	0.105	0.106	0.065
30	0.491	0.157	0,256	0.121	0.119	0.075
40	0.595	0.182	0.297	0.138	0.131	0.085
50	0.724	0.208	0.345	0.156	0.143	0.094
60	0.854	0.238	0.398	0.175	0.156	0.104
70	0.994	0.275	0.469	0.198	0.171	0.115
80	1.203	0.334	0.576	0.235	0.192	0.129
90	1.478	0.444	0.738	0.291	0.228	0.154
計測粒子数	21640 個		22769 個		15620 個
計測除外粒子数	174 個		50 個		148 個

注：破損した粒子や明確に楕円体(異形粒子)と識別できる粒子は計測から除外されている。

諸物性

１）SiO₂純度（溶融シリカ）

表2　SiO₂純度

種類	SiO₂％
FSTP 0.3-1.5	99.77
FSTP 0.2-0.7	99.72
FSTP 0.09-0.2	99.51

＊高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置による。

２）粒子密度

表3　粒子密度

種類	粒子密度(kg/m³)
FSTP 0.3-1.5	2333.7
FSTP 0.2-0.7	2340.3
FSTP 0.09-0.2	2336.5

＊気体置換法ピクノメータによる

３）アスペクト比・円形度(球形の度合い)

表4　アスペクト比・円形度

種類	測定粒子数	アスペクト比		円形度(平均値)
種類	測定粒子数	平均値	1～1.1%	円形度(平均値)
FSTP 0.3-1.5	654	1.0336	95	0.9406
FSTP 0.2-0.7	637	1.0355	95	0.9310
FSTP 0.09-0.2	576	1.0501	92	0.9233

＊電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)の影像を画像解析ソフトウェアにより粒子形状分析を行った。「1～1.1%」は「アスペクト比が1～1.1の間に入った割合(％)(個数基準)を示す。

５）屈折率

1.45(文献値)

電顕写真


FSTP 0.3-1.5	FSTP 0.2-0.7	FSTP 0.09-0.2

包装単位：
サブミクロン試験用粒子（3種類のセット）：1ケース
※（各々内容量が異なるﾊﾞｲｱﾙ3個入り）
※内容量：
FSTP 0.3-1.5　約4g
FSTP 0.2-0.7　約3g
FSTP 0.09-0.2　約2g

商品其它備註